1NM扫描电迁移粒径谱仪
使用第二代1 nm粒度分析仪将您的测量值调整到检测高点。30多年来，TSI的SMPS 光谱仪已被广泛用作测量亚微米和低纳米尺寸范围内气溶胶尺寸分布的标准。通过添加Model 3757 Nano Enhancer和Model 3086差分迁移率分析仪（1nm DMA），现在可以高分辨率和高速度测量大小和数量浓度，并监测反应动力学和工程和天然气溶胶颗粒的新粒子形成小至1纳米。
1 nm SMPS系统结合了TSI在颗粒分类和计数方面的历史优势，采用新技术，可测量小至1 nm的颗粒。优化的Model 3086 DMA进一步降低了那些最小颗粒的扩散损失。在DMA和标准CPC之间，Model 3757 NanoEnhancer使用二甘醇预生长1 nm颗粒，以便CPC检测。新的Nano Enhancer设计加强了CPC和Nano Enhancer之间的集成，使设置和使用更加容易。
总之，这些组件使研究人员能够将粒子研究转移到新领域。主要应用是：
大气研究?– 监测新的粒子形成和动力学，云凝结，并缩小质谱仪与传统粒度分布测量之间的差距。非常适合研究高污染城市中亚3nm粒子，粒子源和健康影响研究。
材料科学?– 通过可靠的近实时反馈监测和表征亚3 nm粒子。该系统非常适用于基于气溶胶的工程纳米粒子合成，纳米粒子功能化，纳米级分析化学，反应动力学控制和催化剂合成。
应用
- 基础气溶胶研究
- 研究粒子成核和粒子生长，来自粒子源，如火焰合成，激光烧蚀，火花产生和成核/冷凝
- 燃烧和发动机排气研究，（有机燃料，亚3nm排放，天然气发动机，塑料成型和焊接）
- 过滤研究
- 吸入或暴露室研究
- 健康影响研究
- 关于大小和数量集中的快速，高分辨率数据
- 针对最小扩散损失进行了优化
- > 1至50 nm之间的109个通道
- 通过添加3081A长DMA，能够测量超过三十年的尺寸，从1 nm到1μm
- 模块化组件设计，用于定制，以满足测量需求，例如单独使用1nm CPC
- 内置诊断和系统组件自动检测功能，可提供可靠且信誉良好的测量数据
- 易于设置和使用Aerosol Instrument Manager（AIM）软件
- 谨慎的颗粒测量：适用于多模式样品
1nm SMPS不仅仅是另一种能够观察到1nm的成核爆发的探测器;?它是一个完整的粒子光谱仪，可以显示这些事件中存在的大小分布，具有很好的分辨率。
组件的模块化使您可以轻松定制系统，以满足您的测量需求，从而节省您的时间和金钱。如果您已拥有配置有3750 CPC的3938系列SMPS系统之一，则只需添加1nm-DMA和Nano Enhancer。您的分类器和高级中和器将保持不变，您将获得最新版AIM软件的免费更新。
*功能和优点假设SMPS光谱仪包括：3082分级器，1nm-DMA，3757型纳米增强器和3750型凝结粒子计数器。
